전자파 테스트 솔루션 및 차폐 설비 기술의 선두주자, ㈜이레테크

AES 5501은 ISO 7637-2 규격에 따른 배출가스 관련 전자파 시험을 위해 설계된 시스템으로, 전자 및 기계식 스위치, 의사회로망 (Artificial Network), 고유의 제어 스테이션으로 구성되어 있습니다. 세밀한 개발 과정과 철저한 베타 테스트를 거쳐 출시된 AES 5501은 우수한 규격 적합성, 신뢰 높은 품질, 그리고 차별화된 기능성을 갖춘 솔루션으로 평가받고 있습니다. 이 시스템은 총 네 개의 구성 요소로 이루어져 있으며, 사용자는 스위치의 위치, 동작 시점, 제어 방식을 정밀하게 설정할 수 있습니다. 또한, 릴레이 구동에 필요한 전압까지 포함하여 다양한 시험 조건을 일관되게 제어할 수 있는 유연한 운용 환경을 제공합니다.

㈜이레테크는 고객의 다양한 EMI 측정 및 분석 요구에 대응하기 위해 TOYO의 최신 소프트웨어 포트폴리오를 제공합니다. EMINT는 AI 및 디지털 기술을 기반으로 EMI(전자파 간섭) 저감 대책을 지원하는 고기능 분석 소프트웨어입니다. 본 소프트웨어는 EMI 노이즈의 주요 원인 부품 식별, 유사 사례 기반의 대책 정보 검색, 관련 기술 문서 제공까지 AI 엔진을 통해 자동화된 분석 기능을 제공하며, 디지털 전환(DX) 기술을 활용해 측정 데이터를 실시간으로 공유하고 체계적으로 관리할 수 있도록 설계되었습니다.

CAS ISN 캘리브레이션 키트는 차폐되지 않은 밸런스드 페어용 ISN의 기능 검증 및 정기적 재측정을 위해 설계된 솔루션입니다. 측정 항목에는 공통 모드 임피던스, 위상각, 전압 분배 계수, 디커플링 감쇠(격리도), 종변환손실 (LCL)이 포함되며, 이는 ISN의 주요 성능 특성을 평가하는 데 활용됩니다. ISN은 CISPR 22 및 CISPR 16-1-2에 정의되어 있으며, 특히 CISPR 16-1-2는 ISN에 대한 추가 요구사항과 측정 예시를 제공합니다.

이 저주파 증폭기 시리즈는 TESEQ(AMETEK CTS)의 다른 증폭기들과 함께 사용하여 10 kHz부터 40 GHz까지의 전체 주파수 범위를 포괄할 수 있도록 설계되었습니다. 각 주파수 대역은 편리한 분할점 기준으로 나뉘어 있어, 대역별 전력 수준을 최적화할 수 있습니다. Class A 증폭기 설계는 전 주파수 범위에 걸쳐 높은 선형성, 낮은 왜곡, 그리고 우수한 신뢰성을 제공하며, 출력에 개방 회로나 단락 회로가 발생하더라도 전력 손실 없이 안정적으로 동작할 수 있도록 설계되었습니다.

고출력 밀도 설계를 적용하여 제작된 이 듀얼 밴드 증폭기 시리즈는 20 MHz부터 6 GHz까지의 넓은 주파수 범위에서 동작하며, 30W에서 50W P1dB 출력 범위를 제공합니다. 컴팩트한 4U 또는 7U 랙마운트 패키지로 구성되어 공간 효율성이 뛰어나며, ISO 11452-9 등 표준에 따른 RF 내성 시험뿐만 아니라 5G 인프라 구성 요소에 대한 시험에도 적합합니다.

전도성 EMC 시험용으로 설계된 이 불일치 허용형(Class A) 증폭기 시리즈는 IEC 61000-4-6 규격에 따른 전도성 내성 시험에서, 일반적으로 요구되는 10V emf 시험 수준은 물론 그 이상의 전압까지 CDN에 안정적으로 전력을 공급할 수 있는 최적의 솔루션입니다. Class A 증폭기 설계는 전 주파수 범위에 걸쳐 높은 선형성, 낮은 왜곡, 우수한 신뢰성을 보장하며, 출력 단자에서 개방 회로나 단락 회로가 발생하더라도 전력 손실 없이 안정적으로 동작할 수 있도록 설계되었습니다.

고출력 밀도 설계를 기반으로 제작된 이 증폭기 시리즈는 0.8 GHz부터 4 GHz까지의 주파수 범위에서 동작하며, 30W에서 최대 800W P1dB 출력을 제공합니다. 본 증폭기들은 GTEM 셀이나 TESEQ(AMETEK CTS) BHA 시리즈 혼 안테나 등과 함께 사용하기에 적합하며, TESEQ (AMETEK CTS) NSG 6000 시스템과 손쉽게 통합되어 광대역 RF 내성 시험 시스템의 핵심 구성 요소로 활용될 수 있습니다.

고출력 밀도 설계를 기반으로 제작된 이 컴팩트한 20U 랙형 증폭기는 0.8 GHz부터 4.0 GHz까지의 주파수 범위에서 동작하며, 1.2~1.4 GHz 및 2.7~3.5 GHz 대역에서는 각각 최소 400W의 선형 연속파(CW) 출력과 900W / 600W의 포화 연속파 출력을 제공합니다. 이 증폭기는 RF 내성 시험에 최적화되어 있으며, 다양한 혼 안테나와 결합하여 레이더 및 자동차용 펄스 시험 환경에 특히 적합합니다. 또한, TESEQ(AMETEK CTS) NSG 6000 시스템과 통합 운용이 가능하여, 광대역 EMC 시험 시스템의 구성 요소로도 활용할 수 있습니다.

이 증폭기 시리즈는 고출력 밀도 설계를 적용하여, 1.0 GHz부터 6 GHz까지의 주파수 범위에서 30W에서 최대 400W P1dB까지의 출력 성능을 제공합니다. 해당 제품군은 GTEM 셀이나 TESEQ(AMETEK CTS) BHA 시리즈 혼 안테나와 함께 사용하기에 적합하며, NSG 6000 시스템과의 통합도 용이하여 광대역 RF 내성 시험 시스템의 구성 요소로 활용될 수 있습니다. 터치 스크린 컬러 디스플레이는 순방향 및 역방향 전력, 현재 작동 상태, 게이트 전류, 히트싱크 온도 등 다양한 진단 정보를 직관적으로 표시해, 시험 중 장비 상태를 실시간으로 확인할 수 있습니다. 또한, 팬 속도는 히트싱크 온도에 따라 자동 조절되어, 시험실 환경에서 최소한의 소음으로 안정적인 운용이 가능합니다.

고출력 밀도 설계를 기반으로 제작된 이 컴팩트한 20U 랙형 증폭기는 0.8 GHz부터 6.0 GHz까지의 넓은 주파수 범위에서 동작하며, 1.2~1.4 GHz 및 2.7~3.2 GHz 대역에서는 각각 최소 400W / 300W의 선형 연속파(CW) 출력과 900W / 600W의 포화 연속파 출력을 제공합니다. 이 증폭기는 RF 내성 시험에 최적화되어 있으며, 다양한 혼 안테나와 결합하여 특히 레이더 및 자동차용 펄스 시험에 적합합니다. 또한 TESEQ(AMETEK CTS) NSG 6000 시스템과의 통합 운용이 가능하여, 광대역 EMC 시험 시스템의 핵심 구성 요소로 활용될 수 있습니다.

전면에 장착된 터치 스크린 컬러 디스플레이는 순방향 및 역방향 전력, 작동 상태, 게이트 전류, 히트싱크 온도 등 주요 진단 정보를 실시간으로 시각화하여 사용자에게 직관적이고 정확한 운용 환경을 제공합니다. 히트싱크 온도에 따라 팬 속도가 자동 조절되어, 운용 중에도 최소한의 소음으로 안정적인 냉각 성능을 유지합니다.

또한, 내장된 정밀 교정 순방향 전력 커플러를 통해 외부 전력계와 손쉽게 연동하여 출력 전력을 모니터링할 수 있으며, USB, GPIB, RS232, 이더넷 등 다양한 원격 제어 인터페이스가 기본 제공되어, 자동화 시험 시스템과의 통합에 높은 유연성을 제공합니다.

CBL 6111D는 클래식 BiLog® 안테나로 EMC 방출 및 내성 시험을 위한 고성능 초광대역 안테나입니다. 두 개의 안테나를 하나로 결합한 원조 BiLog® 설계를 기반으로 하며, 시험 시간을 최소 20~30% 단축시키고, 케이블 및 커넥터의 반복 연결로 인한 마모와 측정 오류를 효과적으로 줄여줍니다.

CBL 6112D는 세 가지 EMC 안테나 유형을 하나로 통합한 제품으로, 30 MHz부터 2 GHz까지의 넓은 주파수 범위에서 전례 없는 성능을 제공합니다. 이 안테나는 바이코니컬, 로그 주기형, 웨이브가이드 혼 안테나의 특성을 효과적으로 결합하여, 다양한 시험 조건에서 안정적인 성능을 보장합니다. 시험 중 안테나를 별도로 분리하거나 재연결할 필요가 없어, 시험 반복성과 신뢰성이 크게 향상되며, 시험 시간도 약 40~50% 절감할 수 있어 고가의 EMC 시험 효율을 극대화할 수 있습니다.

CBL 6141B는 컴팩트한 X-Wing® BiLog® 안테나로 소형 무반사 챔버에서 RF EMC 방출 및 내성 시험에 적합하게 설계된 제품입니다. 독자적인 BiLog® 기술과 새롭게 설계된 저주파 접이식 요소(X-Wing®)의 결합을 통해, 80 MHz 대역에서의 전력을 효율적으로 전방 투사하면서도 고주파 특성에는 영향을 최소화합니다.

CBL 6143A는 컴팩트한 X-Wing® BiLog® 안테나로 RF EMC 내성 시험을 위해 설계된 장비입니다. BiLog® 기술과 신형 저주파 접이식 요소(X-Wings®)의 결합을 통해 저주파 전력을 효율적으로 전방으로 투사하면서도 고주파 성능에 영향을 거의 주지 않고, 챔버 내 결합 효과를 최소화합니다.
CBL 6143은 최대 300W CW 전력을 전송할 수 있는 독창적인 매칭 네트워크를 탑재하고 있어, 10 V/m 이상의 필드 강도가 요구되는 대부분의 내성 시험에 적합한 성능을 제공합니다.

EMC 시험 수행시 전자파의 방해를 받지 않고 DUT를 상시 관찰하고, 각 측정시마다 발생하는 높은 전계 강도를 견디는 것이 매우 중요합니다.
EMC 전용 오디오, 비디오 제품을 제공하여 표준 아날로그 CCTV에서 HD 비디오 해상도, 그리고 네트워크 IP 카메라 시스템까지 전범위에 걸쳐 최신 기술을 제공합니다.

㈜이레테크는 TESEQ (AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

차폐되지 않은 비대칭 데이터 라인용으로 특별히 설계된 AF 시리즈 CDN(커플링/디커플링 네트워크)는 4선 및 5선 CAN 버스 애플리케이션에 최적화된 전용 구조를 갖추고 있습니다.

해당 CDN은 IEC/EN 61000-4-6 표준을 완벽히 준수하여 다양한 시험 시스템과의 원활한 통합은 물론, 산업 표준에 부합하는 신뢰성 있는 시험 환경을 제공합니다. 또한, 두 가지 주파수 범위 옵션을 통해 광범위한 주파수 대역에서도 일관된 성능과 시험 신뢰도를 확보할 수 있습니다.

AF 시리즈 CDN(커플링/디커플링 네트워크)는 IEC/EN 61000-4-6 표준의 요구사항을 정확하게 충족하도록 설계된 장비로, 특히 차폐되지 않은 비대칭 데이터 라인에 대한 전도성 내성 시험에 최적화되어 있습니다. 이 시리즈는 시험 대상의 라인 수에 따라 다양한 구성 옵션을 제공하여, 다양한 응용 환경에 유연하게 대응할 수 있습니다.

㈜이레테크는 TESEQ (AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

본 시리즈는 150 kHz부터 230 MHz까지의 넓은 주파수 범위를 지원하며, 모든 모델은 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 충족하며, 일관된 성능과 국제 표준 부합성을 보장해 고객의 제품 인증 및 품질 확보에 기여합니다.

AF 시리즈 CDN(커플링/디커플링 네트워크)는 IEC/EN 61000-4-6 표준의 요구사항을 정확하게 충족하도록 설계된 장비로, 특히 차폐되지 않은 비대칭 데이터 라인에 대한 전도성 내성 시험에 최적화되어 있습니다. 이 시리즈는 시험 대상의 라인 수에 따라 다양한 구성 옵션을 제공하여, 다양한 응용 환경에 유연하게 대응할 수 있습니다.

㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

본 시리즈는 공급 라인의 구성, 전류 및 전압 요건에 따라 다양한 모델을 선택할 수 있어, 고객의 시험 환경에 최적화된 구성을 지원합니다.

또한, 10 kHz부터 80 MHz까지의 주파수 범위를 지원하며, NAMUR 및 기타 관련 표준에도 적합하여 다양한 산업 분야에서 폭넓게 활용될 수 있습니다.

㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

본 시리즈는 전원 공급 라인에 최적화되어 있으며, 라인의 수, 전류, 전압 사양에 따라 다양한 모델 선택이 가능합니다.

150 kHz부터 230 MHz까지의 주파수 범위를 지원하는 모든 CDN은 IEC/EN 61000-4-6 표준을 완벽히 준수하여, 시험 시스템과의 원활한 통합과 산업 표준 부합성을 보장합니다.

㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

S 시리즈는 차폐된 데이터 라인 측정을 위해 특화된 구조로 설계되었으며, 애플리케이션 유형과 라인 수량에 따른 다양한 시험 요구를 충족할 수 있도록 폭넓은 모델 구성을 제공합니다. S 시리즈의 모든 모델은 IEC/EN 61000-4-6을 완전히 준수하며, 높은 측정 신뢰성과 산업 표준 부합성을 보장합니다.

또한, 고객의 시험 목적과 환경에 따라 선택할 수 있도록 두 가지 주파수 범위 설계 옵션을 제공하여, 다양한 EMC 시험 시나리오에 유연하게 대응할 수 있습니다.

㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

T 시리즈는 시험 목적 및 라인 수 구성에 따라 다양한 옵션을 선택할 수 있는 높은 유연성을 제공하며, IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하여 시험 시스템과의 원활한 통합과 산업 표준 부합성을 보장합니다.
또한, 서로 다른 시험 주파수 범위에 대응하기 위한 두 가지 설계 옵션을 통해 다양한 EMC 시험 환경에 효과적으로 대응할 수 있습니다.

㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 IEC/EN 61000-4-19 표준 대응 CDND 솔루션을 공급하고 있습니다.
본 제품은 2 kHz부터 150 kHz까지의 주파수 범위에서 우수한 성능을 발휘하며, 단상 3라인 애플리케이션에 최적화된 선택지입니다.

㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 IEC/EN 61000-4-31 표준 대응 CDND 솔루션을 공급하고 있습니다.
본 제품은 표준에서 요구하는 종변환손실(LCL)을 충족하도록 최적화된 설계가 적용된 고신뢰성 시험 장비입니다.