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CDN/Clamp

* 총 제품 수 15

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  • CDN AF Series From 10 kHz
    CDN AF Series From 10 kHz

    ㈜이레테크는 TESEQ (AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

    본 시리즈는 10 kHz부터 80 MHz까지의 주파수 범위를 지원하며, NAMUR 및 기타 관련 산업 표준에 적합하여 다양한 산업 현장에서 안정적으로 운용될 수 있습니다.

    AF 시리즈 CDN(커플링/디커플링 네트워크)는 IEC/EN 61000-4-6 표준의 요구사항을 정확하게 충족하도록 설계된 장비로, 특히 차폐되지 않은 비대칭 데이터 라인에 대한 전도성 내성 시험에 최적화되어 있습니다. 이 시리즈는 시험 대상의 라인 수에 따라 다양한 구성 옵션을 제공하여, 다양한 응용 환경에 유연하게 대응할 수 있습니다.

  • CDN AF Series From 150kHz
    CDN AF Series From 150kHz

    ㈜이레테크는 TESEQ (AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

    본 시리즈는 150 kHz부터 230 MHz까지의 넓은 주파수 범위를 지원하며, 모든 모델은 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 충족하며, 일관된 성능과 국제 표준 부합성을 보장해 고객의 제품 인증 및 품질 확보에 기여합니다.

    AF 시리즈 CDN(커플링/디커플링 네트워크)는 IEC/EN 61000-4-6 표준의 요구사항을 정확하게 충족하도록 설계된 장비로, 특히 차폐되지 않은 비대칭 데이터 라인에 대한 전도성 내성 시험에 최적화되어 있습니다. 이 시리즈는 시험 대상의 라인 수에 따라 다양한 구성 옵션을 제공하여, 다양한 응용 환경에 유연하게 대응할 수 있습니다.

  • CDN AF CAN Series
    CDN AF CAN Series

    ㈜이레테크는 TESEQ (AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

    차폐되지 않은 비대칭 데이터 라인용으로 특별히 설계된 AF 시리즈 CDN(커플링/디커플링 네트워크)는 4선 및 5선 CAN 버스 애플리케이션에 최적화된 전용 구조를 갖추고 있습니다.

    해당 CDN은 IEC/EN 61000-4-6 표준을 완벽히 준수하여 다양한 시험 시스템과의 원활한 통합은 물론, 산업 표준에 부합하는 신뢰성 있는 시험 환경을 제공합니다. 또한, 두 가지 주파수 범위 옵션을 통해 광범위한 주파수 대역에서도 일관된 성능과 시험 신뢰도를 확보할 수 있습니다.

  • CDN M Series From 10 kH
    CDN M Series From 10 kH

    ㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

    본 시리즈는 공급 라인의 구성, 전류 및 전압 요건에 따라 다양한 모델을 선택할 수 있어, 고객의 시험 환경에 최적화된 구성을 지원합니다.

    또한, 10 kHz부터 80 MHz까지의 주파수 범위를 지원하며, NAMUR 및 기타 관련 표준에도 적합하여 다양한 산업 분야에서 폭넓게 활용될 수 있습니다.

  • CDN M Series From 150 kHz
    CDN M Series From 150 kHz

    ㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

    본 시리즈는 전원 공급 라인에 최적화되어 있으며, 라인의 수, 전류, 전압 사양에 따라 다양한 모델 선택이 가능합니다.

    150 kHz부터 230 MHz까지의 주파수 범위를 지원하는 모든 CDN은 IEC/EN 61000-4-6 표준을 완벽히 준수하여, 시험 시스템과의 원활한 통합과 산업 표준 부합성을 보장합니다.

  • CDN S Series
    CDN S Series

    ㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

    S 시리즈는 차폐된 데이터 라인 측정을 위해 특화된 구조로 설계되었으며, 애플리케이션 유형과 라인 수량에 따른 다양한 시험 요구를 충족할 수 있도록 폭넓은 모델 구성을 제공합니다. S 시리즈의 모든 모델은 IEC/EN 61000-4-6을 완전히 준수하며, 높은 측정 신뢰성과 산업 표준 부합성을 보장합니다.

    또한, 고객의 시험 목적과 환경에 따라 선택할 수 있도록 두 가지 주파수 범위 설계 옵션을 제공하여, 다양한 EMC 시험 시나리오에 유연하게 대응할 수 있습니다.

  • CDN T Series
    CDN T Series

    ㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

    T 시리즈는 시험 목적 및 라인 수 구성에 따라 다양한 옵션을 선택할 수 있는 높은 유연성을 제공하며, IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하여 시험 시스템과의 원활한 통합과 산업 표준 부합성을 보장합니다.
    또한, 서로 다른 시험 주파수 범위에 대응하기 위한 두 가지 설계 옵션을 통해 다양한 EMC 시험 환경에 효과적으로 대응할 수 있습니다.

  • CDND IEC/EN 61000-4-31
    CDND IEC/EN 61000-4-31

    ㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 IEC/EN 61000-4-31 표준 대응 CDND 솔루션을 공급하고 있습니다.
    본 제품은 표준에서 요구하는 종변환손실(LCL)을 충족하도록 최적화된 설계가 적용된 고신뢰성 시험 장비입니다.

  • CDND IEC/EN 61000-4-19
    CDND IEC/EN 61000-4-19

    ㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 IEC/EN 61000-4-19 표준 대응 CDND 솔루션을 공급하고 있습니다.
    본 제품은 2 kHz부터 150 kHz까지의 주파수 범위에서 우수한 성능을 발휘하며, 단상 3라인 애플리케이션에 최적화된 선택지입니다.

  • Accessories
    Accessories

    CDND 시리즈 전용으로 설계된 종합 액세서리 키트는 다양한 국제 표준 요구사항을 충족하도록 맞춤 제작되었으며, CDND 장비의 기능 테스트, 검증 측정 및 교정을 위한 필수 도구를 제공합니다.

  • Absorbing Clamps / Ferrite Tubes
    Absorbing Clamps / Ferrite Tubes

    흡수 클램프는 전원 케이블 상의 간섭 신호를 측정하는 데 사용되며, 디커플링 클램프와 페라이트 튜브는 다양한 EMC 응용 환경에서 효과적인 신호 분리와 필터링을 위해 제공됩니다.

  • EM Clamps
    EM Clamps

    KEMZ 801은 IEC/EN 61000-4-6 표준에 명시된 EM 클램프와 유사한 구조로, 유도 결합과 정전 결합 방식을 통해 간섭 신호를 주입하며, 10 MHz 이상의 주파수 대역에서 AE를 10 dB 이상 디커플링하는 기능을 갖추고 있습니다.

  • Current Injection Probes
    Current Injection Probes

    이 프로브는 IEC/EN 61000-4-6을 비롯하여 MIL-STD-461 CS114, ISO 11452-4와 같은 자동차 BCI 테스트를 포함한 다양한 전도성 내성 시험에 적합하도록 설계되었습니다.

  • Current Sensing Probes
    Current Sensing Probes

    전류 감지 프로브는 비대칭 전류 측정이 가능한 CSP 모델과, 능동 또는 수동 모드에서 전류 모니터링이 가능한 MD 모델로 구성되어 다양한 측정 목적에 대응이 가능합니다.

  • Capacitive Voltage Probe
    Capacitive Voltage Probe

    CVP는 4쌍 이상의 밸런스드 페어나 비대칭 회선을 사용하는 통신 포트에서 전도성 간섭 측정을 수행하기 위한 장비로, 고밀도 데이터 라인 환경에서의 EMC 적합성 평가에 적합합니다.