Commercial

Compact Generator

EFT/버스트(4.8kV), 서지 조합파(6.6kV), 딥 인터럽트 및 변형, 링파(6.6kV) 및 자기장 테스트를 위한 다기능 발생기. 임펄스 모듈 선택은 테스트 요구 사항에 따라 다릅니다.

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  NSG 3040A models

  ㈜이레테크는 고객의 다양한 규격 요구사항에 부합하는 신뢰 높은 시험 환경을 구축하기 위하여 TESEQ (AMETEK CTS)의 최신 EMC 내성 시험 장비인 NSG 3040A을 제공합니다. NSG 3040A는 국제 및 국가 표준, 제조사 사양, 최신 IEC/EN 표준에 따른 전도성 내성 시험을 위한 다기능 전자파 간섭(EMI) 시뮬레이터로 설계되었으며, 조합파 서지, EFT(고속 과도 현상) 펄스, PQT(전원 품질 시험) 등 CE 마킹을 위한 필수 시험 항목을 모두 지원합니다. 이 장비는 모듈식 설계 기반의 확장성을 갖추고 있어, 기본 시험 구성에서 시작해 고급 시험실의 복합적인 요구까지 유연하게 대응할 수 있습니다. 고성능 독립형 모듈은 스위칭 속도와 위상 정확도 측면에서 우수한 성능을 발휘하며, 업계 표준을 능가하는 정밀도를 제공합니다.
  
  NSG 3040A는 사용자 인터페이스 측면에서도 탁월한 편의성을 제공합니다. 7인치 컬러 터치 디스플레이는 뛰어난 시인성과 직관적인 제어를 가능하게 하며, 통합 키보드 및 정밀 감도 조절이 가능한 엄지 휠은 빠르고 정확한 입력을 지원합니다. 또한, Test Assistance (TA) 기능을 통해 몇 번의 클릭만으로 표준화된 시험을 신속하게 실행할 수 있어 개발 현장에서의 생산성과 반복 정밀도를 모두 만족시킵니다. 시험 설정은 램프 함수와 다단계 시험 시퀀스를 손쉽게 구성할 수 있으며, 전문가 모드에서는 시험 중에도 매개변수 값을 수동으로 조정할 수 있어 임계값 탐색 및 문제 해결에 효과적입니다. SD 메모리 카드를 통해 펌웨어 업데이트와 데이터 저장이 가능하며, 메모리 용량이 부족할 경우 사용자가 손쉽게 교체할 수 있어 장기 시험에서도 안정적인 운용이 가능합니다. 또한, 이더넷 포트를 통한 외부 PC 연동이 가능하며, Windows 기반 제어 소프트웨어는 복잡한 시험 시퀀스의 프로그래밍 및 컴파일을 간소화하고, 시험 중 실시간 시험 보고서 작성 기능을 통해 장시간 운용 시에도 효율적인 결과 관리가 가능합니다.

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  NSG 3060A models

  ㈜이레테크는 CE 마크 및 ANSI C62.41 시험에 최적화된 차세대 전도성 내성 시험 시스템인 TESEQ(AMETEK CTS)의 신형 NSG 3060A를 제공합니다. NSG 3060A는 성공적으로 검증된 기존 NSG 3000 시리즈의 사용자 중심 설계 철학을 한층 발전시킨 모델로, 모듈식 구조를 기반으로 기본 시험 요구사항뿐 아니라 고급 시험실의 복잡한 시험 시나리오까지 폭넓게 대응할 수 있는 확장형 솔루션입니다.
  
  NSG 3060A는 조합파 서지, 링 웨이브, EFT(전기적 고속 과도현상) 펄스, 전원 품질 시험(PQT) 등 전도성 내성 시험의 핵심 항목을 모두 충족하며, ANSI C62.41 규격에서 요구하는 위상 연동형 펄스 진폭 조정 기능도 완벽하게 구현되어 고난이도 시험 요구에도 대응할 수 있습니다. NSG 3060A의 독창적인 마스터-슬레이브 아키텍처는 펄스 발생 모듈을 빠르고 유연하게 추가할 수 있도록 하며, 모듈별 개별 교정이 가능하여 전체 시스템을 재교정할 필요 없이 유지보수가 간편합니다. 또한 최신 고정밀 부품을 적용한 독립형 모듈은 스위칭 정밀도와 위상 제어 능력 측면에서 업계 최고 수준의 성능을 제공합니다. 7인치 고해상도 컬러 터치 디스플레이는 직관적인 사용자 경험을 제공하며, 통합 키보드와 감도 조절 기능이 탑재된 엄지 휠을 통해 빠르고 정밀한 설정이 가능합니다. 각 시험 매개변수는 그래픽 인터페이스를 통해 명확하게 표시되며, 스타일러스 없이 손가락만으로도 모든 설정을 간편하게 조작할 수 있습니다. 램프 함수 구성, 다단계 시험 시퀀스 생성 및 실시간 매개변수 수정 기능 등은 시험 유연성과 생산성을 극대화합니다. 시험 중에도 매개변수를 조정할 수 있는 전문가 모드, 그리고 몇 번의 클릭만으로 표준화된 시험을 실행할 수 있는 Test Assistance (TA) 기능은 개발 환경에서 빠르고 신뢰높은 결과 도출을 지원합니다. 또한, SD 메모리 카드를 통해 펌웨어 업데이트와 시험 데이터 저장이 간편하며, 저장 용량이 부족할 경우 표준 SD 카드로 손쉽게 교체 및 백업이 가능합니다.
  

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  NSG 3150 Family

  ㈜이레테크는 업계 기준을 선도하는 15kV 조합파 서지 발생기 솔루션, TESEQ(AMETEK CTS)의 신제품 NSG 3150 시리즈를 제공합니다. NSG 3150은 IEC/EN 61000-4-5 규격에 완벽히 부합하며, 업계에서 새로운 기준을 제시하는 차세대 EMC 내성 시험 솔루션입니다. 이 장비는 표준 요구사항을 충실히 준수할 뿐 아니라, 보다 강화된 조건에서도 시험이 가능하도록 설계되어, 사용자가 규격 이상의 고품질 테스트를 수행할 수 있도록 지원합니다. 특히, 유연한 시험 반복 시간 설정 기능은 동일 조건 하에서 시험 시간을 크게 단축시켜, 생산성과 효율성을 향상시키는 데 기여합니다.
  
  NSG 3150은 옥외 환경 시험에 최적화된 제품으로, 조명, 통신, 에너지 분배 장비, 철도, 릴레이 및 보호 시스템(예: IEC 60255-26 등)과 같은 다양한 산업용 전자 장비의 고전압 내성 시험에 널리 활용됩니다. 최대 15kV의 서지 펄스 전압 출력은 제조사들이 보다 엄격한 품질 기준을 충족하고, 기술적 우위를 확보하는 데 핵심 역할을 합니다.
  

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