* 총 제품 수 7 개
AMETEK CTS M 시리즈는 IEC/EN 61000-4-6에 설명된 설계 및 성능 요구 사항을 충족하도록 정밀하게 설계 및 제작된 광범위한 CDN(커플링/감결합 네트워크)입니다. 주요 공급 라인에 맞게 설계된 M 시리즈 CDN은 라인 수량, 전류 및 전압을 기반으로 다양한 선택을 제공합니다.150kHz ~ 230MHz의 주파수 범위를 갖춘 각 CDN은 IEC/EN 61000-4-6을 완벽하게 준수하여 원활한 통합과 업계 표준 준수를 보장합니다.
㈜이레테크는 TESEQ (AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.
본 시리즈는 10 kHz부터 80 MHz까지의 주파수 범위를 지원하며, NAMUR 및 기타 관련 산업 표준에 적합하여 다양한 산업 현장에서 안정적으로 운용될 수 있습니다.
AF 시리즈 CDN(커플링/디커플링 네트워크)는 IEC/EN 61000-4-6 표준의 요구사항을 정확하게 충족하도록 설계된 장비로, 특히 차폐되지 않은 비대칭 데이터 라인에 대한 전도성 내성 시험에 최적화되어 있습니다. 이 시리즈는 시험 대상의 라인 수에 따라 다양한 구성 옵션을 제공하여, 다양한 응용 환경에 유연하게 대응할 수 있습니다.
㈜이레테크는 TESEQ (AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.
본 시리즈는 150 kHz부터 230 MHz까지의 넓은 주파수 범위를 지원하며, 모든 모델은 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 충족하며, 일관된 성능과 국제 표준 부합성을 보장해 고객의 제품 인증 및 품질 확보에 기여합니다.
AF 시리즈 CDN(커플링/디커플링 네트워크)는 IEC/EN 61000-4-6 표준의 요구사항을 정확하게 충족하도록 설계된 장비로, 특히 차폐되지 않은 비대칭 데이터 라인에 대한 전도성 내성 시험에 최적화되어 있습니다. 이 시리즈는 시험 대상의 라인 수에 따라 다양한 구성 옵션을 제공하여, 다양한 응용 환경에 유연하게 대응할 수 있습니다.
㈜이레테크는 TESEQ (AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.
차폐되지 않은 비대칭 데이터 라인용으로 특별히 설계된 AF 시리즈 CDN(커플링/디커플링 네트워크)는 4선 및 5선 CAN 버스 애플리케이션에 최적화된 전용 구조를 갖추고 있습니다.
해당 CDN은 IEC/EN 61000-4-6 표준을 완벽히 준수하여 다양한 시험 시스템과의 원활한 통합은 물론, 산업 표준에 부합하는 신뢰성 있는 시험 환경을 제공합니다. 또한, 두 가지 주파수 범위 옵션을 통해 광범위한 주파수 대역에서도 일관된 성능과 시험 신뢰도를 확보할 수 있습니다.
㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.
S 시리즈는 차폐된 데이터 라인 측정을 위해 특화된 구조로 설계되었으며, 애플리케이션 유형과 라인 수량에 따른 다양한 시험 요구를 충족할 수 있도록 폭넓은 모델 구성을 제공합니다. S 시리즈의 모든 모델은 IEC/EN 61000-4-6을 완전히 준수하며, 높은 측정 신뢰성과 산업 표준 부합성을 보장합니다.
또한, 고객의 시험 목적과 환경에 따라 선택할 수 있도록 두 가지 주파수 범위 설계 옵션을 제공하여, 다양한 EMC 시험 시나리오에 유연하게 대응할 수 있습니다.
㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.
T 시리즈는 시험 목적 및 라인 수 구성에 따라 다양한 옵션을 선택할 수 있는 높은 유연성을 제공하며, IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하여 시험 시스템과의 원활한 통합과 산업 표준 부합성을 보장합니다.
또한, 서로 다른 시험 주파수 범위에 대응하기 위한 두 가지 설계 옵션을 통해 다양한 EMC 시험 환경에 효과적으로 대응할 수 있습니다.