㈜이레테크는 CE 마크 및 ANSI C62.41 시험에 최적화된 차세대 전도성 내성 시험 시스템인 TESEQ(AMETEK CTS)의 신형 NSG 3060A를 제공합니다. NSG 3060A는 성공적으로 검증된 기존 NSG 3000 시리즈의 사용자 중심 설계 철학을 한층 발전시킨 모델로, 모듈식 구조를 기반으로 기본 시험 요구사항뿐 아니라 고급 시험실의 복잡한 시험 시나리오까지 폭넓게 대응할 수 있는 확장형 솔루션입니다.

NSG 3060A는 조합파 서지, 링 웨이브, EFT(전기적 고속 과도현상) 펄스, 전원 품질 시험(PQT) 등 전도성 내성 시험의 핵심 항목을 모두 충족하며, ANSI C62.41 규격에서 요구하는 위상 연동형 펄스 진폭 조정 기능도 완벽하게 구현되어 고난이도 시험 요구에도 대응할 수 있습니다. NSG 3060A의 독창적인 마스터-슬레이브 아키텍처는 펄스 발생 모듈을 빠르고 유연하게 추가할 수 있도록 하며, 모듈별 개별 교정이 가능하여 전체 시스템을 재교정할 필요 없이 유지보수가 간편합니다. 또한 최신 고정밀 부품을 적용한 독립형 모듈은 스위칭 정밀도와 위상 제어 능력 측면에서 업계 최고 수준의 성능을 제공합니다. 7인치 고해상도 컬러 터치 디스플레이는 직관적인 사용자 경험을 제공하며, 통합 키보드와 감도 조절 기능이 탑재된 엄지 휠을 통해 빠르고 정밀한 설정이 가능합니다. 각 시험 매개변수는 그래픽 인터페이스를 통해 명확하게 표시되며, 스타일러스 없이 손가락만으로도 모든 설정을 간편하게 조작할 수 있습니다. 램프 함수 구성, 다단계 시험 시퀀스 생성 및 실시간 매개변수 수정 기능 등은 시험 유연성과 생산성을 극대화합니다. 시험 중에도 매개변수를 조정할 수 있는 전문가 모드, 그리고 몇 번의 클릭만으로 표준화된 시험을 실행할 수 있는 Test Assistance (TA) 기능은 개발 환경에서 빠르고 신뢰높은 결과 도출을 지원합니다. 또한, SD 메모리 카드를 통해 펌웨어 업데이트와 시험 데이터 저장이 간편하며, 저장 용량이 부족할 경우 표준 SD 카드로 손쉽게 교체 및 백업이 가능합니다.