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Near Field Probe

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Near-Field Probes

근거리장 프로브는 어셈블리 및 장치의 고주파, 전기 및 자기 RF 장을 함께 측정하는 데 사용됩니다.
단일 프로브에 대한 기술 매개변수는 해당 제품 기사와 개요 PDF에서 다운로드하여 확인할 수 있습니다.

  • LF, Passive, 100 kHz up to 50 MHz
    LF, Passive, 100 kHz up to 50 MHz

    LF 시리즈는 총 7개의 자기장(H-field) 프로브로 구성되어 있으며, 이 중 4개는 LF1 세트에 포함되어 있습니다. 고객 요청에 따라 맞춤형 프로브 세트 구성도 가능합니다.

  • RF, Passive, 30 MHz up to 3 GHz
    RF, Passive, 30 MHz up to 3 GHz

    RF 시리즈는 9개의 자기장 프로브와 6개의 전기장(E-field) 프로브로 구성된 종합 세트로 제공되며, 다양한 고주파 측정 작업에 최적화되어 있습니다. 필요에 따라 맞춤 세트 제작도 지원됩니다.

  • XF, Passive, 30 MHz up to 6 GHz
    XF, Passive, 30 MHz up to 6 GHz

    XF 시리즈는 4개의 자기장 프로브와 3개의 전기장 프로브로 구성되어 있으며, 기본 구성으로 XF1 세트(4개의 자기장 프로브 + 1개의 전기장 프로브) 가 제공됩니다. 사용 목적에 따른 맞춤형 세트도 제공 가능합니다.

  • SX, Passive, 1GHz up to 20 GHz
    SX, Passive, 1GHz up to 20 GHz

    SX 시리즈는 3개의 자기장(H-field) 프로브와 1개의 전기장(E-field) 프로브로 구성되어 있으며, SX1 세트(2개의 H-필드 프로브 + 1개의 E-필드 프로브) 및 SX-R 20-1 세트가 제공됩니다.

  • HR, Passive, up to 40 GHz
    HR, Passive, up to 40 GHz

    HR 시리즈는 최대 40 GHz 대역의 고주파 RF 필드를 정밀하게 측정할 수 있도록 설계된 H-필드 및 E-필드 프로브 세트입니다.

  • MFA, Active, 1MHz up to 6 GHz
    MFA, Active, 1MHz up to 6 GHz

    MFA 시리즈는 4개의 능동형 자기장 프로브로 구성되어 있으며, MFA 01은 3개의 H-필드 프로브, MFA 02 세트는 저주파 측정 전용 2개의 H-필드 프로브를 포함합니다.

  • CM-SHP (Customized Shapes)
    CM-SHP (Customized Shapes)

    ㈜이레테크는 Langer EMV-Technik GmbH의 기술력과 유연한 생산 체계를 기반으로, 고객의 측정 환경과 요구사항에 맞춰 특수 형태의 근접장 프로브(Customized Near-field Probes)를 설계 및 공급할 수 있습니다.

  • Langer EMV - E1 set, Immunity Development System
    Langer EMV - E1 set, Immunity Development System

    E1은 개발 단계에서 인쇄회로기판(PCB)의 EMI 억제를 지원하기 위한 EMC 테스트 도구 세트입니다. 개발자는 E1 세트를 활용해 버스트(Burst) 및 ESD 간섭의 원인을 빠르게 식별하고, 이에 대한 적절한 해결책을 설계할 수 있습니다. 또한, 해결 조치의 효과를 즉시 테스트하는 데에도 유용합니다.
    소형 설계로 개발자의 작업 공간에서도 간편하게 사용할 수 있으며, 제공되는 사용자 매뉴얼에는 EMC 메커니즘과 간섭 억제를 위한 기본 측정 전략이 상세히 안내되어 있습니다. E1 세트에는 버스트 및 ESD 교란을 생성하는 발생기가 포함되어 있어, 실전 같은 테스트 환경 구성이 가능합니다.

  • Langer EMV - ICI-DP HH500-15 set, Double Pulse Magnetic Field Source set
    Langer EMV - ICI-DP HH500-15 set, Double Pulse Magnetic Field Source set

    ICI-DP HH500-15 세트는 안전이 요구되는 회로에 고시간 및 고공간 해상도의 전자기 펄스를 주입하는 EMFI(전자기 결함 주입) 테스트를 위해 설계되었습니다.
    이 장비는 단일 펄스는 물론, 최소 25ns 간격의 이중 펄스 시퀀스도 생성할 수 있어 정밀한 테스트가 가능합니다. 세트 구성품에는 고전압 소스 BPS 204와 전용 프로브 ICI-DP HH500-15가 포함되어 있으며, 프로브 또는 BPS의 동기 입력을 통해 외부 시퀀스와의 동기화도 지원합니다. 펄스 전압, 극성 등 주요 파라미터는 소프트웨어를 통해 직관적으로 설정할 수 있어 사용자 편의성과 실용성을 모두 갖추고 있습니다.