* 총 제품 수 9 개
근거리장 프로브는 어셈블리 및 장치의 고주파, 전기 및 자기 RF 장을 함께 측정하는 데 사용됩니다.
단일 프로브에 대한 기술 매개변수는 해당 제품 기사와 개요 PDF에서 다운로드하여 확인할 수 있습니다.
E1은 개발 단계에서 인쇄회로기판(PCB)의 EMI 억제를 지원하기 위한 EMC 테스트 도구 세트입니다. 개발자는 E1 세트를 활용해 버스트(Burst) 및 ESD 간섭의 원인을 빠르게 식별하고, 이에 대한 적절한 해결책을 설계할 수 있습니다. 또한, 해결 조치의 효과를 즉시 테스트하는 데에도 유용합니다.
소형 설계로 개발자의 작업 공간에서도 간편하게 사용할 수 있으며, 제공되는 사용자 매뉴얼에는 EMC 메커니즘과 간섭 억제를 위한 기본 측정 전략이 상세히 안내되어 있습니다. E1 세트에는 버스트 및 ESD 교란을 생성하는 발생기가 포함되어 있어, 실전 같은 테스트 환경 구성이 가능합니다.
ICI-DP HH500-15 세트는 안전이 요구되는 회로에 고시간 및 고공간 해상도의 전자기 펄스를 주입하는 EMFI(전자기 결함 주입) 테스트를 위해 설계되었습니다.
이 장비는 단일 펄스는 물론, 최소 25ns 간격의 이중 펄스 시퀀스도 생성할 수 있어 정밀한 테스트가 가능합니다. 세트 구성품에는 고전압 소스 BPS 204와 전용 프로브 ICI-DP HH500-15가 포함되어 있으며, 프로브 또는 BPS의 동기 입력을 통해 외부 시퀀스와의 동기화도 지원합니다. 펄스 전압, 극성 등 주요 파라미터는 소프트웨어를 통해 직관적으로 설정할 수 있어 사용자 편의성과 실용성을 모두 갖추고 있습니다.