- About us
- Chamber
- Testing Solution
-
Product
- Chamber Component
- EMP Protection
- EMC Software
- Compact Conducted Immunity (CS) Test System
- Transient Test System
- ESD Simulator
- Antennas
- RF Power Amplifier
- ISN
- CDN/Clamp
- GTEM / TEM Cells / Striplines / Reverberation Chambers
- Near Field Probe
- NSA measurement set
- EMC Scanner
- Monitoring System
- Tissue Simulating Liquids
- Real-time electromagnetic monitoring system
- Magnetic Field Emission Test System
- Ionospheric Sounder
- Technical Data
- Partners
- News & Event
Product
- Chamber Component
- EMP Protection
- EMC Software
- Compact Conducted Immunity (CS) Test System
- Transient Test System
- ESD Simulator
- Antennas
- RF Power Amplifier
- ISN
- CDN/Clamp
- GTEM / TEM Cells / Striplines / Reverberation Chambers
- Near Field Probe
- NSA measurement set
- EMC Scanner
- Monitoring System
- Tissue Simulating Liquids
- Real-time electromagnetic monitoring system
- Magnetic Field Emission Test System
- Ionospheric Sounder
ProductNear Field Probe
ProductNear Field Probe
Near-Field Probes
근거리장 프로브는 어셈블리 및 장치의 고주파, 전기 및 자기 RF 장을 함께 측정하는 데 사용됩니다.
단일 프로브에 대한 기술 매개변수는 해당 제품 기사와 개요 PDF에서 다운로드하여 확인할 수 있습니다.
XF, Passive, 30 MHz up to 6 GHz DATASHEET
XF 시리즈는 4개의 자기장 프로브와 3개의 전기장 프로브로 구성되어 있으며, 기본 구성으로 XF1 세트(4개의 자기장 프로브 + 1개의 전기장 프로브) 가 제공됩니다. 사용 목적에 따른 맞춤형 세트도 제공 가능합니다.