㈜이레테크는 고객의 다양한 규격 요구사항에 부합하는 신뢰 높은 시험 환경을 구축하기 위하여 TESEQ (AMETEK CTS)의 최신 EMC 내성 시험 장비인 NSG 3040A을 제공합니다. NSG 3040A는 국제 및 국가 표준, 제조사 사양, 최신 IEC/EN 표준에 따른 전도성 내성 시험을 위한 다기능 전자파 간섭(EMI) 시뮬레이터로 설계되었으며, 조합파 서지, EFT(고속 과도 현상) 펄스, PQT(전원 품질 시험) 등 CE 마킹을 위한 필수 시험 항목을 모두 지원합니다. 이 장비는 모듈식 설계 기반의 확장성을 갖추고 있어, 기본 시험 구성에서 시작해 고급 시험실의 복합적인 요구까지 유연하게 대응할 수 있습니다. 고성능 독립형 모듈은 스위칭 속도와 위상 정확도 측면에서 우수한 성능을 발휘하며, 업계 표준을 능가하는 정밀도를 제공합니다.

NSG 3040A는 사용자 인터페이스 측면에서도 탁월한 편의성을 제공합니다. 7인치 컬러 터치 디스플레이는 뛰어난 시인성과 직관적인 제어를 가능하게 하며, 통합 키보드 및 정밀 감도 조절이 가능한 엄지 휠은 빠르고 정확한 입력을 지원합니다. 또한, Test Assistance (TA) 기능을 통해 몇 번의 클릭만으로 표준화된 시험을 신속하게 실행할 수 있어 개발 현장에서의 생산성과 반복 정밀도를 모두 만족시킵니다. 시험 설정은 램프 함수와 다단계 시험 시퀀스를 손쉽게 구성할 수 있으며, 전문가 모드에서는 시험 중에도 매개변수 값을 수동으로 조정할 수 있어 임계값 탐색 및 문제 해결에 효과적입니다. SD 메모리 카드를 통해 펌웨어 업데이트와 데이터 저장이 가능하며, 메모리 용량이 부족할 경우 사용자가 손쉽게 교체할 수 있어 장기 시험에서도 안정적인 운용이 가능합니다. 또한, 이더넷 포트를 통한 외부 PC 연동이 가능하며, Windows 기반 제어 소프트웨어는 복잡한 시험 시퀀스의 프로그래밍 및 컴파일을 간소화하고, 시험 중 실시간 시험 보고서 작성 기능을 통해 장시간 운용 시에도 효율적인 결과 관리가 가능합니다.