안녕하세요, ㈜이레테크입니다.

EMC분석, 이제는 정밀도와 속도가 핵심인 시대입니다.

오늘 포스팅은 저희 이레테크가 취급하는 Langer EMV-Technik사에서 선보인 최신 근접장 분석 시스템, 

IC 스캐너 ICS 105 세트와 FLS 106 세트에 관한 내용인데요,

이 두 시스템은 IC 및 PCB 개발 단계에서 빠르고 재현 가능한 근접장 측정을 가능하게 하며, 

엔지니어가 설계 결함을 조기에 파악하고 신속히 개선할 수 있도록 돕는 솔루션입니다.

ICS 105와 FLS 106의 가장 큰 강점은 극도의 정밀성입니다.

IC 상부의 고주파 근접장을 측정하기 위해 설계된 이 시스템은 ICR 근접장 마이크로 프로브를 통해 자기장 또는 전기장을 정밀하게 측정할 수 있습니다.

·         ICS 105 최소 스텝 크기: 10 μm (IC 레벨의 초정밀 측정 가능)

·         FLS 106 최소 스텝 크기: 20 μm

·         측정 분해능: 50~100 μm

·         측정 주파수: 최대 6 GHz

이처럼 높은 정밀도를 통해 전자기 간섭장(EMI)을 미세하게 포착하고, 재현성 있는 분석 결과를 안정적으로 확보할 수 있습니다.

단순히 2D 평면 데이터만 보는 시대는 지났습니다.

ICS 105와 FLS 106은 4축 포지셔닝 시스템을 기반으로 진정한 3차원 근접장 분석을 구현합니다.

·         4축 포지셔닝: x, y, z 이동 + α(회전) 축

·         자기장 방향 분석: ICS 105는 프로브를 자동 회전시켜 자기장 방향까지 파악

·         3D 시각화: 복잡한 간섭 구조를 다각도로 관찰 가능

3D 이동과 회전 기능의 결합으로 복잡한 EMI 구조도 직관적이고 시각적으로 이해할 수 있습니다.

정밀도만큼 중요한 건 안정성입니다.

Langer EMV-Technik의 스캐너는 기계적 완성도와 프로브 보호 기능에서도 탁월합니다.

·         충돌 방지: 통합 충돌 감지(Integrated Collision Detection) 기능으로 DUT(테스트 대상)의 손상 방지

·         견고한 구조: 진동 최소화로 반복 측정 시에도 일관된 결과 보장

·         호환성: 다양한 홀더 지원으로 모든 Langer 프로브 사용 가능

·         확장성: UH-DUT 범용 홀더 및 SH 01 프로브 홀더로 소형 어셈블리 측정에도 대응

안정성과 유연성을 모두 갖춘, 진정한 올인원 스캐너입니다!

근접장 분석을 넘어 다양한 테스트로 확장하세요!

ICS 105 및 FLS 106은 단순한 측정 장비를 넘어 다양한 테스트 환경 구성에도 활용할 수 있습니다.

·         면역 테스트:

o    ESD(정전기 방전) 테스트

o    EFT(전기적 고속 과도 현상) 테스트

·         스캔 모드:

o    표면 스캔

o    3D 스캔

o    회전 스캔

몇 가지 간단한 설정만으로 IC 면역 테스트까지 수행 가능한 유연한 시스템입니다.

Langer EMV-Technik의 스캐너는 소프트웨어 측면에서도 유연합니다.

·         Chip-Scan 소프트웨어 지원:

o    3D 뷰, 수평/수직 단면 이미지 제공

o    다양한 스펙트럼 분석기 연동

o    실험실 환경에 쉽게 통합 가능

·         API 직접 연동:

o    Windows용 DLL / Linux용 SO 제공

o    맞춤형 분석 소프트웨어에 직접 통합 가능

o    소프트웨어 제외 시 비용 절감 효과

즉, 표준 소프트웨어를 사용하든, 자체 분석 솔루션과 연동하든 모두 가능한 개방형 플랫폼 구조입니다.

IC 및 PCB의 EMI 분석에 있어, 정밀도, 재현성, 유연성을 모두 만족시키는 시스템은 많지 않은데요, 

ICS 105 / FLS 106 세트는 이 세 가지를 완벽히 조합한 차세대 근접장 분석 솔루션이라 할 수 있습니다.

본 제품 관련이나 전자파 시험 측정 솔루션 관련 궁금한 점은 언제든 저희 ㈜이레테크 전자파솔루션사업부에 문의하시면 친절히 안내해 드리겠습니다!